電路維修中,電容故障占比超20%(來(lái)源:EE Times, 2021),但普通萬(wàn)用表的電容檔位常被誤用。如何避免因測(cè)量方法錯(cuò)誤導(dǎo)致的誤判?
數(shù)字萬(wàn)用表通常采用充放電法:向電容施加已知電流,測(cè)量電壓變化速度來(lái)計(jì)算容量。指針式萬(wàn)用表則依賴阻抗法,通過(guò)交流信號(hào)響應(yīng)判斷容值。 關(guān)鍵差異: - 數(shù)字表更適合小容量測(cè)量(通常低至1pF) - 指針表對(duì)電解電容老化檢測(cè)更敏感
正全電子技術(shù)提示:測(cè)量前必須對(duì)電容徹底放電,殘余電壓可能導(dǎo)致讀數(shù)偏差或儀表?yè)p壞。
容量衰減超30%即需更換(來(lái)源:IPC標(biāo)準(zhǔn))。配合正全電子提供的電容老化對(duì)照表,可快速判斷: | 現(xiàn)象 | 可能原因 | |---------------------|------------------| | 讀數(shù)波動(dòng)大 | 介質(zhì)漏電 | | 測(cè)量值持續(xù)上升 | 電解液干涸 |