作為電路中的關(guān)鍵儲(chǔ)能元件，電容器可能因老化、過(guò)壓或溫度沖擊導(dǎo)致性能劣化。據(jù)統(tǒng)計(jì)，約23%的電子設(shè)備故障與電容異常直接相關(guān)(來(lái)源：IEEE可靠性報(bào)告, 2021)。如何快速鎖定故障點(diǎn)？ 正全電子技術(shù)團(tuán)隊(duì)整理出5種經(jīng)典型檢測(cè)方案，適用于各類電解電容、薄膜電容等主流類型，無(wú)需專業(yè)儀器即可完成基礎(chǔ)診斷。

二、基礎(chǔ)外觀檢測(cè)法

肉眼可見(jiàn)的故障特征

• 鼓包變形：電解液干涸的典型表現(xiàn)
• 漏液痕跡：殼體密封失效的標(biāo)志
• 引腳氧化：接觸電阻增大的誘因

  注意：部分陶瓷電容的微小裂紋需用放大鏡觀察

三、萬(wàn)用表檢測(cè)黃金法則

3.1 電阻測(cè)量法

1. 選擇兆歐檔測(cè)量極間電阻
2. 正常值應(yīng)呈現(xiàn)充電后無(wú)窮大
3. 持續(xù)低阻值表明存在內(nèi)部短路 正全電子實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，該方法可識(shí)別約65%的早期失效電容(來(lái)源：內(nèi)部測(cè)試報(bào)告)。

3.2 容量測(cè)試要點(diǎn)

• 使用數(shù)字電橋時(shí)需注意頻率匹配
• 實(shí)測(cè)值低于標(biāo)稱值20%即需更換

四、進(jìn)階診斷方案

4.1 ESR表檢測(cè)

等效串聯(lián)電阻升高是性能劣化的敏感指標(biāo)： - 開(kāi)關(guān)電源濾波電容ESR增長(zhǎng)1Ω可能引發(fā)紋波異常 - 建議建立同類電容的基線數(shù)據(jù)對(duì)比

4.2 熱成像檢測(cè)

通過(guò)溫度分布異常可發(fā)現(xiàn)： - 局部過(guò)熱點(diǎn) - 介質(zhì)損耗加劇區(qū)域

五、典型問(wèn)題速查表