如何確保光耦在電路中穩定可靠地工作？精準的性能測試是避免系統故障的關鍵環節。本文將揭示實用的測量技巧，助您高效評估光耦核心參數。

理解光耦關鍵性能參數

光耦性能的核心在于其電流傳輸比（CTR）和隔離能力。CTR反映輸入發光器件與輸出光敏器件的轉換效率，直接影響信號傳輸強度。 隔離耐壓則是安全性的基石，它決定了光耦抵抗兩側電路間高壓差的能力。測試前需明確規格書中的標稱值范圍（來源：IEC 60747-5, 2020）。

實用測量技巧詳解

掌握正確的測試方法是獲得準確數據的前提。以下步驟可有效提升測量精度。

電流傳輸比（CTR）測量

1. 搭建電路：使用可調直流電源驅動輸入端LED，輸出端串聯精密電阻連接測量儀表。
2. 控制輸入電流：將輸入電流（I_F）設定在典型工作值（如5-20mA）。
3. 測量輸出電流：在輸出端讀取集電極電流（I_C）。
4. 計算CTR：應用公式：CTR (%) = (I_C / I_F) × 100%。

   注意：測試環境溫度可能顯著影響結果，建議在恒溫條件下進行。

響應時間測試

響應時間包含開啟時間（t_on）和關斷時間（t_off），對高速應用至關重要。需使用具備脈沖發生功能的示波器觀測輸入輸出波形邊沿。 | 測試項目 | 關鍵設備 | 觀察點 | |----------|----------|--------| | 開啟時間 | 脈沖發生器、示波器 | 輸出從10%升至90% | | 關斷時間 | 脈沖發生器、示波器 | 輸出從90%降至10% |

常見問題與排查要點

測量中遇到異常結果？這些典型問題值得關注： * CTR值過低：可能因輸入驅動不足、輸出負載過重或器件老化導致。需復核電路參數。 * 響應遲緩：輸出端負載電容過大是常見原因，檢查電路布局與負載設計。 * 隔離失效：高壓測試中若發生擊穿，表明絕緣強度不足，應立即更換器件。

定期校準測試儀器是保證結果可靠性的基礎（來源：CNAS-CL01, 2018）。 精準測量是保障光耦可靠隔離與信號傳輸的核心。掌握CTR測試方法、關注響應時間細節、及時識別常見故障，可顯著提升電子系統的穩定性與安全性。